產(chǎn)品時(shí)間：2024-01-03
EIGER2 XE CdTe光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器第四代同步加速器的革命性的技術(shù)： EIGER2 X CdTe探測(cè)器是為在高能量段需要高分辨率和高幀速率的科學(xué)家設(shè)計(jì)的。單個(gè)像素尺寸僅為75µm，可檢測(cè)的光子能量高達(dá)100 keV。
EIGER2 XE CdTe光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器
1、產(chǎn)品特點(diǎn)：
第四代同步加速器的革命性的技術(shù)：
EIGER2 X CdTe探測(cè)器是為在高能量段需要高分辨率和高幀速率的科學(xué)家設(shè)計(jì)的。單個(gè)像素尺寸僅為75µm，可檢測(cè)的光子能量高達(dá)100 keV。由于死時(shí)間為零，所以每幀之間不會(huì)丟失光子。雙能量閾值可以在兩個(gè)能量段之間做剪影或減少高能量段的背景噪音。第二個(gè)能量鑒別閾值允許你在兩個(gè)能量箱中成像你的樣本，或削減更高的諧波以減少背景。大計(jì)數(shù)速率高達(dá)107光子/秒/像素。EIGER2 X CdTe探測(cè)器性能優(yōu)異且易于集成和操作。
2、核心優(yōu)勢(shì)：
– 量子效率高、能量范圍高達(dá)100KeV
– 沒(méi)有圖像延遲或余輝
– 大計(jì)數(shù)速率高達(dá)107光子/秒/像素
– 兩個(gè)能量閾值
– 電子門控觸發(fā)
– 有效面積大
3、應(yīng)用領(lǐng)域：
– x射線衍射(單晶和粉末)
– 現(xiàn)場(chǎng)和原位技術(shù)
– 衍射顯微鏡和層析成像
– 漫散射和對(duì)分布函數(shù)
EIGER2 XE CdTe光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器
4、技術(shù)參數(shù)：
EIGER2 X CdTe | 9M | 16M |
探測(cè)器模塊數(shù)量 | 3 x 6 | 4 x 8 |
有效面積：寬x高 [mm2] | 233.1 X 244.7 | 311.1 X 327.2 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 | |
| 總像素 | 3108 × 3262 =10,138,296 | 4148 × 4362 =18,093,576 |
間隙寬度 垂直/水平[pixels] *每個(gè)模塊中間有一2個(gè)像素的垂直間隙 | 12 / 38 | 12 / 38 |
| 能量閾值 | 2 | |
大計(jì)數(shù)率[光子/秒/像素] | 107 | |
| 大幀速率 [Hz] | 550 | 550(20s burst), 400（連續(xù)） |
| 點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù) | 1 pixel(FWHM) | |
CdTe厚度[μm] | 750 | |
| 真空兼容性是否可選 | 否 | |
| 數(shù)據(jù)格式 | HDF5 / NeXus | |
尺寸（WHD）[mm3] | 340 × 370 × 500 | 400 × 430 × 500 |
重量 [kg] | 41 | 55 |
| 光子能量[keV] | 100keV | |
