產(chǎn)品時(shí)間:2024-01-03
GEM50-83-LB-C高純鍺(HPGe)伽馬γ能譜儀半導(dǎo)體(高純鍺和Si(Li))探測(cè)器擁有精銳的能量分辨率,由其組成的γ和X射線能譜測(cè)量技術(shù)與產(chǎn)品,不僅是核結(jié)構(gòu)、分子物理、原子碰撞等核物理與核反應(yīng)研究的重要工具
GEM50-83-LB-C高純鍺(HPGe)伽馬γ能譜儀
高純鍺伽馬能譜儀通常由:高純鍺探測(cè)器,譜儀,制冷器,鉛室,軟件等五部分組成。
一、高純鍺探測(cè)器:
“寬能"探測(cè)器:GEM-S/GEM-C/GEM-SP
三個(gè)系列可選:“精銳"、“全優(yōu)"和“超精銳"
性能指標(biāo)上綜合了傳統(tǒng)GEM與GMX探測(cè)器的優(yōu)勢(shì);能量下限降至3keV;分辨率優(yōu)異;中低能段效率顯著提升;
GEM-S和GEM-C系列采用超薄可靠接觸極,GEM-SP系列采用點(diǎn)接觸極;
在常溫下保存不會(huì)損害探測(cè)器性能;
嚴(yán)格保證效率、分辨率、峰型與峰康比等完整指標(biāo);
以晶體尺寸定義型號(hào),同一型號(hào)的探測(cè)器采用相同的晶體結(jié)構(gòu)和尺寸,從而保證了相當(dāng)一致的效率曲線。
應(yīng)用(測(cè)量)中如不關(guān)注低能射線,ORTEC提供基于傳統(tǒng)GEM工藝、但以晶體尺寸定義型號(hào)的探測(cè)器。
GEM-S8530、GEM50和GMX50效率比較 (點(diǎn)源,與端帽距離25cm) | GEM-S8530、GEM50和GMX50效率比較 (直徑100mm濾紙?jiān)捶旁诙嗣鄙希?/span> |
二、能譜儀:
1、實(shí)驗(yàn)室新型數(shù)字化譜儀DSPEC -LF/-jr2.0/-Pro基本特征
小巧的外觀,強(qiáng)大的功能
一切控制與參數(shù)設(shè)置由計(jì)算機(jī)進(jìn)行。
高的數(shù)據(jù)通過率:大于100Kcps (DSPEC-Pro大于130Kcps)。
數(shù)字化穩(wěn)譜、數(shù)字化自動(dòng)極零、自動(dòng)優(yōu)化、內(nèi)置虛擬示波器和數(shù)字化門控基線恢復(fù)等功能。
液體顯示屏顯示活時(shí)間、死時(shí)間、輸入計(jì)數(shù)率、高壓實(shí)時(shí)值等設(shè)置和狀態(tài)信息
用戶可預(yù)置多個(gè)核素的MDA,在所有MDA滿足時(shí)自動(dòng)終止計(jì)數(shù)。
統(tǒng)一的“即插即用"式背面板接口,與DIM/Smart-1匹配,相互間具有良好的互換性與兼容性。
2、便攜式高純鍺/NaI/LaBr數(shù)字化譜儀DigiDart/DigiDart-LF基本特征
集數(shù)字化譜儀、鍵盤、顯示屏、軟件與譜存儲(chǔ)器于一體,可以獨(dú)立完成現(xiàn)場(chǎng)刻度、參數(shù)設(shè)置、測(cè)量、分析、保存譜等一切工作,可*脫離計(jì)算機(jī)
可匹配ORTEC高純鍺或閃爍體探測(cè)器
DigiDart可保存23個(gè)16K譜圖,DigiDart-LF可保存150個(gè)2K譜圖
性能指標(biāo)毫不遜色于實(shí)驗(yàn)室譜儀
交流電和鋰電池兩種供電方式,四節(jié)鋰電池充電后,可連續(xù)工作9小時(shí)
高度防水、抗震,工作溫度-10℃到60℃
可多設(shè)置9個(gè)ROI,可在線計(jì)算并顯示活度和不確定度
屏幕顯示計(jì)數(shù)率、實(shí)時(shí)譜、狀態(tài)等信息
通過USB連接電腦進(jìn)行數(shù)據(jù)傳輸,
通過USB連接電腦時(shí),可*代替實(shí)驗(yàn)室數(shù)字化譜儀(鍵盤和屏幕自動(dòng)鎖定)
重量(包括電池)小于900g.
3、實(shí)驗(yàn)室數(shù)字化譜儀DSPEC-50 & DSPEC-502
DSPEC-50是ORTEC于成立50周年之際推出的新一款數(shù)字化譜儀。主要特點(diǎn):
功能齊全,各項(xiàng)參數(shù)等同于DSPEC-Pro;
提供單個(gè)MCA(DSPEC-50)和雙路MCA(DSPEC-502)選擇;
既可以直接連接探測(cè)器,也可以由DIM連接探測(cè)器;
同時(shí)提供USB2.0和以太網(wǎng)接口;
抗干擾能力強(qiáng);
大屏幕彩色液晶可以連續(xù)顯示狀態(tài)和譜圖信息: